自動(dòng)化儀器儀表里的數(shù)控線路問(wèn)題勘驗(yàn)
ROM的檢測(cè)ROM中固化了儀器的監(jiān)控程序、工作程序和常數(shù)表格。ROM的檢測(cè)就是要考核各存儲(chǔ)單元的代碼或常數(shù)在讀出時(shí)是否會(huì)出錯(cuò)。采用的方法是驗(yàn)證所有讀出的存儲(chǔ)單元各對(duì)應(yīng)位代碼的異或和是否正確。將用于校驗(yàn)的正確的代碼和預(yù)先與程序一起固化在ROM中。自檢時(shí)，依次讀ROM的存儲(chǔ)單元。每讀一次代碼值，要與前面各項(xiàng)讀數(shù)的代碼和進(jìn)行按位相加。最后獲得的總的代碼和與標(biāo)準(zhǔn)的代碼和做比較，如一致，說(shuō)明ROM正常，下面具體說(shuō)明對(duì)ROM的檢測(cè)。
設(shè)datal為程序的起始地址， data2為程序的結(jié)束地址， data3為代碼校驗(yàn)和的存儲(chǔ)單元地址，儀器采用的是MCS 51系列單片機(jī)，則可用下列匯編程序自診斷ROM的工作情況。
TROM： MOV DPTR， data2 PUSH DPH PUSH DPL MOV DPTR， datal CLR B LP1： CLR A MOVC A， @ A + DPTR XRL B， A POP A MOV R1， A CJNE A， DPL， LP3 POP A MOV R2， A 25CJNE A， DPH， LP2 A JM P LP4 LP2： PUSH R2 LP3： PUSH R1 INC DPTR A JM P LP1 LP4： MOV DPTR， data3 CLR A MOVC A， @ A+ DPTR XRL A， B JNZ ERR RET ERR： ERR是ROM出錯(cuò)處理程序的入口。
I/O端口的自檢I/O端口的自檢，可采用環(huán)繞技術(shù)，即將輸出端口和輸入端口連接起來(lái)，給輸出口寫入測(cè)試矢量，從輸入口讀入，然后進(jìn)行比較，即可確定有無(wú)故障。以MCS 51系列芯片為例進(jìn)行說(shuō)明。串行I/O的自檢M CS 51機(jī)的串行口為全雙工接口，發(fā)送和接收可以同時(shí)進(jìn)行，可將其輸出TXD和輸入RXD連接起來(lái)進(jìn)行自檢。如所示，當(dāng)多路分配器的開關(guān)位于a時(shí)，RXD和TXD與原電路相接，電路處于正常工作方式。位于d時(shí)， RXD與TXD互聯(lián)，用于串行口自檢。位于b和c時(shí)，用于并行口和總線的自檢。
串行I/O口的自檢原理圖在串行口自檢時(shí)，先開放RXD，然后給TXD寫測(cè)試矢量。最后從RXD讀入數(shù)據(jù)，與剛才寫入的測(cè)試矢量比較，確定有無(wú)故障。下面的程序只測(cè)試了串行口的工作方式1，工作方式2和3的測(cè)試方法類同，只需改變串行口的控制寄存器SCON的初始值即可。
STRT： MOV TMOD， 20H； T1初始化，確定串行口MOV TL1， 0E8H；傳送速率為1200波特MOV TH1， 0E8H MOV SCON， 50H；串行口設(shè)置工作方式1，允許RXD接收SETB TR1；啟動(dòng)定時(shí)器工作MOV R4， 0H MOV DPTR， MVCT LP1： MOV A， R4 MOV A， @ A + DPTR MOV SBUF， A；由TXD發(fā)送串行數(shù)據(jù)MOV R5， A LP2： JBC R I， LP3；接收寄存器SBUF滿否SJM P LP2 LP3： MOV A， SBUF；讀取由RXD接收的數(shù)據(jù)CJNE A， B， SERR INC R4 CJNE RE， 5H， LP1 RET MVCT： DB 00H， OFFH， OAAH， 55H SERR： SERR為出錯(cuò)處理程序的入口4 2并行口P 1的自檢MCS 51機(jī)的并行口有4個(gè)， P 0、P 2、P 3都是專用口，只有P 1口可供用戶作并行輸入輸出口編程使用。為了測(cè)試P 1口，可以利用串行口RXD和TXD，如所示。此圖即為中多路分配器開關(guān)位于b和c時(shí)的情況。當(dāng)串行口工作方式0時(shí)， RXD既可作串行輸出口使用，給外部移位寄存器輸出數(shù)據(jù)，又可作串行輸入口使用，從外部移位寄存器接收數(shù)據(jù)。而TXD可為外部移位寄存器提供移位脈沖。
P 1口的自檢原理圖當(dāng)RXD作為輸出口工作時(shí)，先將數(shù)據(jù)串行移入74LS164中，再由P 1口并行讀入，進(jìn)行比較。當(dāng)RXD作為輸入口工作時(shí)，先將數(shù)據(jù)并行寫入P 1口，然后并行輸入74LS166中，再串行地移入RXD中進(jìn)行比較，便可以確定串行口在方式0時(shí)是否工作正常，或者P 1口并行輸入輸出功能是否正常�？偩�的自檢若RAM和ROM的自檢能順利進(jìn)行，則可以確定地址總線和數(shù)據(jù)總線工作正常。但當(dāng)ROM和RAM的自檢同時(shí)有毛病，則可能是總線有問(wèn)題。中國(guó)糧油儀器網(wǎng) http://m.52lvi.cn/
